功率半導體參數測試儀

此外，普賽斯儀表功率半導體靜態參數測試解決方案還支持交互式手動操作或結合探針臺的自動操作，能夠在整個表征過程中實現**和可重復的器件表征。同時，該方案還可與高低溫箱、溫控模塊等搭配使用，滿足高低溫測試需求。從pA*、mV*高精度源表到kA*、10kV源表，普賽斯的產品解決了國內企業在半導體芯片以及第三代半導體芯片測試中的儀表國產化問題，并在客戶IGBT產線上推出了多條測試示范線，**了國內IGBT測試的技術潮流。功率半導體參數測試儀就找普賽斯儀表，詳詢18140663476

產品特點

 高電壓、大電流

 具有高電壓測量/輸出能力,電壓高達3500V(**可擴展至10kV)

 具有大電流測量/輸出能力,電流高達6000A(多模塊并聯)

 高精度測量

  nA*漏電流, μΩ*導通電阻

  0.1%精度測量

  模塊化配置

  可根據實際測試需要靈活配置多種測量單元系統預留升*空間,后期可添加或升*測量單元

  測試效率高

  內置專用開關矩陣,根據測試項目自動切換電路與測量單元

  支持國標全指標的一鍵測試

  擴展性好

  支持常溫及高溫測試可靈活定制各種夾具