X-Rite愛色麗iCPlate2印版檢測儀-網點測量儀

愛色麗iCPlate2印版檢測儀：

——快捷節能的印版質量控制解決方案

　　X-Rite的便攜式iCPlateⅡ成功解決了直接制版CTP工藝中zui難的問題之一——快速而的印版質量控制。通過內置的攝像機，iCPlateⅡ能分析印版的網點百分比、網線數、網點形狀、加網角度等，并顯示在液晶屏上。您只需按一下測量頭，就可以開始測量，并且測量的結果可以立即在iCPlateⅡ液晶顯示屏上看到，通過iCPlateⅡ您甚至能將網點放大，檢查其形狀，從而看到印版是否有擦痕。由于iCPlateⅡ使用了低功耗的液晶屏，您可以測量30,000次以上而不必更換電池。iCPlateⅡ系列產品組合有四種供您選擇：

　　iCPlateⅡBasic iCPlateⅡBasic+PQS

　　iCPlateⅡAdvanced iCPlateⅡAdvanced+PQS

　　（注：PQS為可選配*端品控軟件）

　　
·iCPlateⅡBasic為印版測試系統的基本款儀器，它可以測量網點百分比、通過測量做可視分析，適用于印版網點及調幅網點的樣品測量。

　　
·iCPlateⅡAdvanced是目前為止功能zui多、適用范圍zui廣的印版測量儀，從CTP版材到傳統印版都可以，通過其環形照明和三種不同的燈泡，既能測量陰圖版和陽圖版，也能測調頻或調幅網點。它可以再現網點直徑、網線數、網角、印版特性、樣本數據、視覺密度,并可利用軟件將此信息傳入電腦。

　　
·TabwizardⅡ品控軟件和TargetⅡ標準測試軟件是iCPlateⅡAdvanced和iCPlateⅡBasic均包含的兩款軟件，您也可以選配PQS*端品控軟件配合iCPlateⅡ使用。


愛色麗iCPlate2：


功能比較
 
iCPlate2 X
 
iCPlate2 XT
 
PlateScope
 

主要功能
 
簡單的印版測量、檢查
 
常規的工作管理和印版測量、檢查
 
日常工藝控制、嚴格的工作管理和印版測量、檢查
 


 
普通模式可測量所有支持的

印版類型



 
普通模式可測量所有支持的

印版類型
 
普通模式可測量所有支持的印版類型，

包括用于特殊用途的高精度測量的特定的

印版圖表
 

重復性
 
高重復性
 
高重復性
 
zui高重復性能
 

標準印版支持
 
支持大多數常用的印版類型



 
支持大多數常用的印版類型
 
支持大多數常用的印版類型
 

免沖洗印版支持
 
如果使用特殊的清洗液，支持高反

差免沖洗印版，如AGFA  Azura

和Fuji Pro-T低延時印版
 
如果使用特殊的清洗液，支持高反

差免沖洗印版，如AGFA  Azura

和Fuji Pro-T低延時印版
 
支持高反差免沖洗印版，如AGFA  Azura

和Fuji Pro-T低延時印版
 

易于使用
 
易于定位、高度可視目標
 
易于定位、高度可視目標
 
容易定位 – 創新的視頻目標定位系統可以

在一臂之遙或光線昏暗的條件下定位
 

連接
 
串行連接到計算機的COM端口上
 
串行連接到計算機的COM端口上
 
USB
 

軟件
 
包括Capture Tool、PlateQuality 2.0（可選）
 
包括Capture Tool、PlateQuality 2.0（可選）
 
包括Capture Tool和PlateQuality 2.0