可程式低溫恒溫恒濕箱

 可程式低溫恒溫恒濕箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產品、零部件及材料在高低溫交變環境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗； 是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱試驗及品管工程的可靠性測試設備； 特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產品的耐高溫、耐低溫循環試驗。

可程式低溫恒溫恒濕箱規格及技術參數：

型號 QTST-27L 內形尺寸:W×H×D 300×300×300   外形尺寸：1200×1660×1020

型號 QTST-50L 內形尺寸:W×H×D 360×350×400   外形尺寸：1650×1790×1440

型號 QTST-80L 內形尺寸:W×H×D 500×400×400   外形尺寸：1790×1850×1440

型號 QTST-108L內形尺寸:W×H×D 600×400×450   外形尺寸：1800×1800×1500

型號 QTST-150L內形尺寸:W×H×D 600×500×500   外形尺寸：1800×1890×1540

型號 QTST-250L內形尺寸:W×H×D 700×600×600   外形尺寸：1900×2050×1650

型號 QTST-408L內形尺寸:W×H×D 1000×650×750  外形尺寸：2000×2300×2600

型號 QTST-560L內形尺寸:W×H×D 1000×700×800  外形尺寸：2000×2400×2700

高溫槽溫度范圍   60 ~200℃. 

低溫槽溫度范圍   A：（-55～-10℃）.    B：（-65～ -10℃）.      D：（-80～ -10℃）. 

實驗箱沖擊溫度   高溫 60～150℃ 

                 低溫 A：（-10～ -40℃）    B：（-10～ -55℃）      D：（ -10～ -65℃） 

升溫時間         60~200℃小于35分 

降溫時間     A：20～-55℃小于75分  B：20～-65℃小于80分 C：20～-75℃小于90分. 

沖擊恢復時間     高溫（150℃）沖擊30分鐘. 

                 低溫（-40℃or-55℃or-65℃）沖擊30分鐘. 

沖擊恢復時間：   5分鐘以內. 

風門開啟時間     3秒以內 

試樣重量         1.0Kg 2.5Kg 5Kg 8Kg 10Kg 15Kg  

可程式低溫恒溫恒濕箱標準參考：

GB10592-89  高低溫試驗箱技術條件

GB10586-89  濕熱試驗箱技術條件

GB2423.1-2001(IEC68-2-1)    試驗A：低溫試驗方法。

GB2423.2-2001(IEC68-2-2)    試驗B：高溫試驗方法。

GB2423.3-93(IEC68-2-3)      試驗Ca：恒定濕熱試驗方法。

GB2423.4-93(IEC68-2-30)     試驗Db：交變濕熱試驗方法。

GJB360.8-87(MIL-STD-202F)   高溫壽命試驗。

GJBl50.9-93(MIL-STD-810D)   濕熱試驗方法。