微觀掃描儀

Paprican 微觀掃描儀(勻度、塵埃測(cè)定儀）
CODE LAD07

微觀掃描儀的優(yōu)點(diǎn)有：

• 三種儀器合而為一
• 系統(tǒng)設(shè)計(jì)適用于從平滑到非常粗糙，從漿到紙板的各種表面的灰塵探測(cè)
• 快速，高精度的自動(dòng)測(cè)試
• 根據(jù)ISO9000追蹤標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行自動(dòng)校準(zhǔn)
• 數(shù)字化映像的顯示、存儲(chǔ)和打印
• 支持其他軟件

微型掃描儀曾用于：

• 新聞紙     輪轉(zhuǎn)凹版印刷紙       靜電復(fù)印紙       高級(jí)紙張　　卷煙紙
• 膠版紙      瓦楞介質(zhì)      衛(wèi)生紙    麻紙    紙巾     墊板    手抄紙

硬件說明
連續(xù)狀態(tài)256色灰度CCD成像機(jī)與一臺(tái)高速的計(jì)算機(jī)相接?？蓲呙杓胺治龅钠矫娣秶鸀?2cm2。樣品光源是用于反射測(cè)試（灰塵和印刷不均勻性）的圓形漫射熒光燈 (380nm　－　740nm)，及用于透射樣本（成型）的帶反饋控制的漫射石英鹵燈。反饋控制自動(dòng)調(diào)整光源強(qiáng)度以適應(yīng)大范圍定量變化。TAPPI/CPPA相等黑色區(qū)域的灰塵定標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)包含在內(nèi)。

塵埃分析
根據(jù)TAPPI方法T563和CPPA標(biāo)準(zhǔn)D.35.P“通過映像分析測(cè)量可見塵埃”的規(guī)定，塵埃分析就是獲取相等黑色區(qū)域（EBA）值。這是利用漫射白光和局部探測(cè)臨界點(diǎn)消除陰影補(bǔ)償而獲得的，并且是與紙張亮度、勻度和表面粗糙度相對(duì)獨(dú)立的。測(cè)試結(jié)果同時(shí)報(bào)告塵埃的物理面積（>0.007mm2）和EBA（>0.010mm2）。

測(cè)試結(jié)果包括：

• 探測(cè)到的污點(diǎn)數(shù)
• 平均污點(diǎn)尺寸 (mm2)
• PPM (mm2/m2)
• 計(jì)數(shù)不穩(wěn)定性
• 污點(diǎn)尺寸分布直方圖
• 碎片數(shù)/m2

臨界點(diǎn)設(shè)置是自動(dòng)進(jìn)行的，且符合TAPPI和CPPA方法。含TAPPI /CPPA/ISO的相關(guān)黑色區(qū)域的塵埃校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。

勻度分析
利用漫射透射光分析在不同光密度（OD）條件下的定量從15g/m2衛(wèi)生紙到500g/m2漂白紙板的紙樣，帶紅外過濾的光學(xué)系統(tǒng)與CCD傳感器具有同樣的靈敏度。測(cè)試結(jié)果包括：

• 云彩花間的密度對(duì)比度
• 云彩花比周長(zhǎng)
• 基于云彩花尺寸和對(duì)比度的勻度指數(shù)
• 可調(diào)云彩花尺寸分布直方圖
• CD方向概觀

印刷均勻性分析
印刷勻性分析采用與勻度分析相同的方式分析密度變化情況，只是光源改為反射光。主要有以下應(yīng)用：

• 印刷斑點(diǎn)
• KN油墨測(cè)試
• 石墨摩擦分析
• “透明點(diǎn)”掛面板分析

透射光對(duì)立面
透射光對(duì)立面探測(cè)非暗即亮。暗對(duì)立面如不透明體沾染物；亮對(duì)立面如針孔和透明點(diǎn)。結(jié)果的報(bào)告方式與物理灰塵分析一樣。

選項(xiàng)
激光打印機(jī)
TAPPI/British 手抄紙自動(dòng)旋轉(zhuǎn)架
X-Y支架